El sistema de microscopio de fuerza atómica (AFM) Dimension FastScan® está diseñado específicamente para escanear rápido sin pérdida de resolución, pérdida de control de fuerza, complejidad añadida o costes operativos adicionales. Con FastScan se consiguen imágenes AFM inmediatas con la alta resolución esperada de un AFM de alto rendimiento. Tanto si escanea a >125 Hz cuando examina una muestra para encontrar la región de interés, como si lo hace a velocidades de 1 segundo por fotograma de imagen en aire o fluido, FastScan redefine la experiencia AFM.
Sin compromisos
rendimiento de alta velocidad
Ofrece la máxima resolución en todo momento, independientemente del tamaño de la muestra.
En tiempo real
dinámica a nanoescala
Proporcionan la máxima velocidad y estabilidad de escaneo de puntas para la visualización directa del comportamiento dinámico en aire o fluidos.
Automatizado
adquisición y análisis de datos
Hace que el funcionamiento del sistema sea sorprendentemente sencillo a la vez que mejora la productividad, lo que le permite centrarse en su investigación.
CARACTERÍSTICAS
Referencia en alta velocidad y alta resolución
Dimension FastScan es el primer y único sistema de escaneo de puntas de alta velocidad que alcanza velocidades de escaneo de fotogramas por segundo sin comprometer la resolución ni el rendimiento del sistema, independientemente del tamaño de la muestra. Ningún otro AFM de alta velocidad tiene el gran acceso a la muestra del FastScan. Junto con PeakForce Tapping®, el sistema consigue una medición instantánea de la fuerza con un bucle de control lineal, lo que permite una resolución dimensional y mecánica de defectos puntuales, y no sólo en cristales duros y planos.
Productividad excepcional
Cada faceta del Dimension FastScan, desde el acceso a la punta y a la muestra hasta los ajustes preconfigurados del software, se ha diseñado específicamente para un funcionamiento sin problemas y sorprendentemente sencillo.
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