Perfilómetro óptico DektakXT®

para investigación en materialesmédico3D

El perfilómetro de palpador DektakXT® presenta un revolucionario diseño de sobremesa que permite una repetibilidad inigualable de 4Å y una mejora de hasta el 40% en las velocidades de escaneado. Este importante hito en el rendimiento de los perfilómetros de palpador es la culminación de más de cincuenta años de innovación y liderazgo industrial de Dektak®. Gracias a su combinación de primicias industriales, DektakXT ofrece lo último en rendimiento, facilidad de uso y valor añadido para permitir una mejor supervisión de los procesos, desde la I+D hasta el control de calidad. Los avances tecnológicos incorporados en DektakXT permiten realizar mediciones críticas de superficies a nivel nanométrico para los sectores de la microelectrónica, los semiconductores, la energía solar, los LED de alto brillo, la medicina y la ciencia de los materiales. 4 angstrom repetibilidad Ofrece una precisión líder en el sector. Un solo arco diseño Proporciona una estabilidad de escaneado revolucionaria. Autoalineación palpadores Permite cambiar las puntas sin esfuerzo. CARACTERÍSTICAS Aceleración de la recogida y el análisis de datos Utilizando una exclusiva etapa de escaneo de accionamiento directo, el DektakXT acelera los tiempos de escaneo de las mediciones en un 40%, manteniendo al mismo tiempo un rendimiento líder en la industria. Vision64, el software de operación y análisis de procesamiento paralelo de 64 bits de Bruker, permite una carga más rápida de archivos 3D y aplicaciones más rápidas de filtros y análisis de bases de datos multiscan. Las mediciones más repetibles La implementación de una estructura de arco único hace que el DektakXT sea más robusto, lo que minimiza los efectos del ruido ambiental. La "electrónica inteligente" mejorada de DektakXT reduce las variaciones de temperatura y emplea procesadores modernos que minimizan el ruido inductor de errores, lo que le permite ser un sistema aún más robusto capaz de medir alturas de paso <10nm.