Para cumplir con RoHS/ELV y analizar elementos peligrosos, HORIBA ha ofrecido la serie XGT-1000WR de analizadores de fluorescencia de rayos X. Desde 2002, 1000 unidades se han utilizado en todo el mundo para estas aplicaciones para satisfacer las necesidades críticas de nuestros clientes para analizar la muestra sin cortarla. En 2012, se lanzó el intuitivo Analizador de Fluorescencia de Rayos X MESA-50. Se hizo muy popular en muy poco tiempo, y en 2013 se ha añadido a la serie MESA-50 un nuevo tipo de MESA-50 con una gran cámara de muestras. Está equipado con el sofisticado detector libre de LN2. La función de análisis de As/Sb y el FPM de película multicapa están disponibles como opciones.
CARACTERÍSTICAS
1. Rapidez
El detector de deriva de silicio (SDD) reduce drásticamente los tiempos de medición y proporciona una mayor sensibilidad para un verdadero análisis de alto rendimiento.
2. Pequeño
El MESA-50K dispone de una cámara de gran tamaño sin comprometer la huella mínima.
Puede conectarse fácilmente a un PC mediante USB.
3. Sencillo
Reduce el trabajo de mantenimiento rutinario (funcionamiento sin LN2)
Sin necesidad de bombas de vacío
Proceso de medición sencillo e intuitivo para todo tipo de materiales
4. Inteligente
Interfaces de usuario en inglés, japonés y chino
Herramienta de gestión de datos Excel
5. Seguro
Sin preocupaciones por fugas de rayos X
ESPECIFICACIONES
Artículos básicos
Principio - Espectrometría de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía
Aplicación de destino - RoHS, ELV, sin halógenos
Medición Elementos - 13Al - 92U
Tipo de muestra - Sólido, Líquido, Polvo
Generador de rayos X
Tubo de rayos X - Max 50kV, 0.2mA
Tamaño de irradiación de rayos X - 1,2 mm, 3 mm, 7 mm (conmutación automática)
Filtro primario de rayos X - 4 tipos (Conmutación automática)
Detector
Tipo - SDD (Silicon Drift Detector)
Procesador de señal - Procesador digital de impulsos
---