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sistema de preparación de muestras de laboratorio / para microscopio electrónico / de mesa / de alto rendimiento
IB-19530CP Jeol

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Características

  • Aplicaciones:

    de laboratorio, para microscopio electrónico

  • Configuración:

    de mesa

  • Otras características:

    de alto rendimiento, de alta velocidad

Descripción

Características
PULIDOR SECCIONADO TRANSVERSALMENTE DE IB-19530CP
El IB-19530CP ofrece una etapa innovador diseñada, multiusos para satisfacer necesidades cada vez más diversificadas del mercado y para realizar multifuncionalidad por los diferentes tipos de tenedores funcionales. La etapa multiusos combinada con los tenedores funcionales especializados permite que el usuario realice diversas funciones tales como superficie planar que muele y puliendo, farfulle la capa así como más moler seccionado transversalmente tradicional del ion.

Alta producción
La fuente de ion de alta velocidad y la función auto del comienzo entregar resultados que muelen rápidamente.

Programa de proceso auto
El proceso de alta velocidad y el acabado se pueden programar para elaborar los cortes transversales de alta calidad en un corto período de tiempo. El proceso intermitente se puede también programar para aumentar la preparación de materiales de la temperatura de temperatura de fusión baja y susceptible a la irradiación del haz de ion.

Facilidad de la disposición
El tenedor modularizado permite el ajuste del área exactamente que muele dentro del IB-19530CP o utilizando un microscopio óptico externo.

Etapa multiusos
Las funciones adicionales incluyendo haz superficial planar el moler y de ion farfullan la capa se pueden utilizar vía una variedad de tenedores.

Placa que protege de la larga vida
La vida de la placa que protege es cerca de tres veces más durables que la de productos convencionales, que permite una velocidad de tratamiento más alta y un curso de la vida más largo.

Traducción automática  (ver el original en inglés)