Espectrómetro XRF M4L
para la investigaciónde mesa

espectrómetro XRF
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Características

Tipo
XRF
Aplicaciones
para la investigación
Configuración
de mesa
Largo

455 mm
(17,9 in)

Ancho

301 mm
(11,9 in)

Alto

302 mm
(11,9 in)

Peso

25 kg
(55,1 lb)

Descripción

El XRF M4L de MicrOptik está diseñado para investigaciones de laboratorio de diversos tipos de objetos. El analizador dispone de una espaciosa cámara de medición con tapa accionada por actuador. El libre acceso a toda la superficie de la mesa de medición permite colocar muestras de cualquier dimensión. El analizador está equipado con un sistema de canal de purga de helio y una impresora térmica integrada. Muestreador automático opcional. CARACTERÍSTICAS TÉCNICAS DEL ANALIZADOR EXPERT 4l Tiempo de funcionamiento continuo No limitado Tiempo en alimentación autónoma Al menos 6 horas Alimentación - AC, 50/60 Hz 100-240 V Consumo de energía de la unidad de medición Inferior a 30 W Dimensiones de la cámara de medición 397x225x153 mm Peso máximo de la muestra medida De 1 mg a 20 kg Garantía No inferior a 1 año CONDICIONES DE FUNCIONAMIENTO Rango de temperatura de funcionamiento -10°C a +45°C Humedad relativa dentro del intervalo de temperatura de funcionamiento <90

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