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Resolución espacial: 2,8, 60, 4, 3,5 nm
... NX2000 es un FIB-SEM optimizado para aplicaciones de semiconductores (análisis de defectos con importación de coordenadas KLARF, extracción de láminas TEM, desarrollo de dispositivos). Con un recorrido X,Y de 205 x 205 mm, la etapa de ...
... con una gran área de exploración, un diseño flexible de los experimentos y una integración excepcional con sistemas de microscopía óptica avanzados. La configuración, alineación y reajuste automatizados de los parámetros ...
Resolución espacial: 115, 269 nm
... capturar procesos biológicos rápidos al doble de la resolución espacial de los microscopios ópticos convencionales (hasta 115nm en XY) . La combinación de N-SIM S y un microscopio confocal ...
Nikon Instruments
Resolución espacial: 115, 269 nm
Un microscopio personal de superresolución que proporciona la misma alta resolución que el N-SIM S. N-SIM E es un sistema de súper resolución simplificado y asequible que proporciona ...
Nikon Instruments
Aumento: 60, 100, 20, 40 unit
Resolución espacial: 400 nm - 750 nm
... Resolución DeepSIM se basa en una robusta técnica SIM de red de múltiples puntos que alcanza una resolución XY de 100 nm, lo que supone multiplicar por 2 la resolución espacial en comparación con la microscopía ...
Nikon Instruments
Resolución espacial: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... preparación de muestras de TEM de alto rendimiento y alta calidad para aplicaciones de vanguardia. * Opción Características La detección de punto final SEM de alto contraste y en tiempo real permite la preparación ...
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