Microscopio de fuerza atómica attoAFM I

de laboratoriocompacto

soporte en voladizo sin alineación → cambio de puntas en menos de 2 minutos detección interferométrica de la desviación del cantilever → medidor de amplitud incorporado exploración en bucle cerrado (opcional) → fácil recuperación de regiones de interés El attoAFM I es un microscopio de fuerza atómica compacto diseñado especialmente para aplicaciones a baja y ultrabaja temperatura, y en campos magnéticos elevados. El instrumento funciona escaneando la muestra por debajo de un voladizo fijo y midiendo su deflexión con la máxima precisión mediante un interferómetro óptico basado en fibra. Esta técnica de detección de la desviación tiene la ventaja de que incorpora un medidor de longitud para la amplitud de oscilación del cantilever, ya que el contraste del interferómetro es directamente proporcional a la longitud de onda del láser. Son aplicables tanto el modo de contacto como el de no contacto. Se emplea principalmente para la microscopía de fuerza magnética (MFM), como la formación de imágenes de vórtices en superconductores o la formación de imágenes de dominios magnéticos a temperatura variable, y para la microscopía de fuerza de respuesta piezoeléctrica (PFM) en ferroeléctricos y multiferroicos. Otros modos de medición de AFM compatibles son la microscopía de fuerza de sonda Kelvin (KPFM), la AFM conductiva (c-AFM), la microscopía de fuerza eléctrica (EFM) y otros modos de captura de imágenes. Para obtener más información, consulte nuestros fundamentos de microscopía. El diseño rígido del módulo del microscopio permite también combinaciones con sistemas de refrigeración basados en tubos de impulsos sin criógeno para aplicaciones en las que no se dispone o no se desea disponer de helio líquido.