Espectrómetro FT-IR CryoSAS

espectrómetro FT-IR
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Características

Tipo
FT-IR

Descripción

El sistema de análisis criogénico de silicio (CryoSAS) de Bruker Optics es un sistema todo en uno dedicado para el análisis de impurezas de silicio a baja temperatura (< 15ºK). CryoSAS está optimizado para su funcionamiento en el entorno industrial. CryoSAS combina los espectrómetros FT-IR de alto rendimiento de Bruker con un sistema de enfriamiento criogénico de ciclo cerrado que no requiere helio líquido. Todos los componentes de CryoSAS son de última generación, pero utilizan tecnologías probadas para lograr un análisis difícil en el exigente entorno de producción de silicio. CryoSAS se puede operar con un alto nivel de automatización, incluyendo informes precisos de los resultados del análisis. ¡Póngase en contacto con nuestro equipo de ventas hoy mismo para obtener más información sobre CryoSAS! Sus características más relevantes son: Alta sensibilidad: CryoSAS analiza impurezas superficiales (por ejemplo, boro, fósforo, etc.) hasta el nivel de ppta según la norma ASTM/SEMI MF1630. Además, analiza simultáneamente el carbono y el oxígeno hasta el nivel de ppba según la norma ASTM/SEMI MF1391. Diseño de cámara de muestra de acero inoxidable: fácil acceso a la muestra Cámara de muestras de diseño probado con óptica estacionaria y cabezal de muestra automatizado. El gran diámetro interior de la cámara de muestras permite un fácil acceso al portamuestras. Bomba previa seca y bomba turbo: funcionamiento simple y limpio del sistema de vacío Evacuación rápida y fiable a través de bomba turbodrag y bomba en seco previa.
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.