La imagen SWIR (infrarrojos de longitud de onda corta) es una gran solución para la inspección no destructiva. Ve bajo la superficie, diferencia los materiales en función de sus firmas espectrales SWIR y ofrece una forma segura y cómoda de garantizar la calidad del producto.
La integración de imágenes SWIR en las líneas de producción requiere cámaras como la cámara de exploración lineal InGaAs C15333-10E, cuya alta sensibilidad SWIR y rápida velocidad de línea son ideales para la inspección no destructiva en línea y en tiempo real.
Características
Sensibilidad SWIR de 950 nm a 1700 nm
matriz lineal de 1024 píxeles
Velocidad de línea máxima 40 kHz
Interfaz: Emplea Gigabit Ethernet
Equipado con imágenes de alta calidad (sustracción de fondo, corrección de sombreado en tiempo real)
Aplicaciones
Productos alimentarios y agrícolas (inspección de daños, control de calidad, discriminación de materiales, etc.)
Semiconductores (inspección de patrones de obleas de Si, inspección de células solares mediante EL/PL, etc.)
Industria (contenido de humedad, detección de fugas, inspección de contenedores, etc.)
Especificaciones
Dispositivo de formación de imágenes - Sensor de línea InGaAs
Nº efectivo de píxeles - 1024 (H) × 1 (V)
Tamaño de la célula - 12,5 μm (H) × 12,5 μm (V)
Área efectiva - 12,8 mm (H) × 0,0125 mm (V)
Velocidad de lectura - Modo interno: 40 kHz (21 μs de tiempo de exposición)
Lectura de sincronización: 40 kHz
Tiempo de exposición: de 21 μs a 1 s (paso de 1 μs)
Entrada de disparo externo - Lectura de sincronización
Enrutamiento de la señal de disparo externo - Conector SMA o HIROSE de 12 pines
Funciones de procesamiento de imágenes - Sustracción de fondo, corrección de sombras en tiempo real
Interfaz - Gigabit Ethernet
Convertidor A/D - 14 bits
Montura del objetivo - Montura C
Alimentación - DC 12 V
Consumo de energía - 6 W máx.
Temperatura ambiente de funcionamiento - 0 ℃ a +40 ℃
Temperatura ambiente de almacenamiento - -10 ℃ a +50 ℃
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