Microscopio AFM AFM100 Plus

multifuncionalde pequeño tamaño

La serie AFM100 es la plataforma de microscopía de sonda de nueva generación de Hitachi. Los sistemas AFM100 Plus y AFM100 que componen esta serie se han diseñado para ampliar las capacidades y el rendimiento de la microscopía de fuerza atómica, al tiempo que proporcionan una plataforma fácil de usar adecuada para usuarios de todos los niveles de experiencia. Experimente la máxima fiabilidad e innovación con la serie AFM100. Características Desafíos para la manipulación de voladizos convencionales - Es difícil agarrar un voladizo con las pinzas tradicionales debido a su pequeño tamaño. - Los voladizos se dañan muy fácilmente con una ligera presión. - La variación de la posición de montaje puede causar problemas de orientación y funcionamiento. Los voladizos premontados agilizan el proceso para aumentar la eficacia y la uniformidad - Sencillo procedimiento de montaje de puntas en un solo paso - Fácil de manipular sin riesgo de daños físicos - Consistencia garantizada de la orientación de la punta - Propiedades mecánicas y eléctricas fiables Medición y análisis automatizados con función de piloto automático con un solo clic Realice mediciones y análisis con un solo clic - Medición automática multipunto dentro de una muestra - Medición continua de múltiples muestras mejora general del rendimiento Ajustes automáticos con RealTune® Il RealTune* II: una función para ajustes automáticos de parámetros ► Optimización automatizada de las condiciones de obtención de imágenes - SIS: exploración inteligente de muestreo ► Excelente seguimiento punta-muestra incluso con características superficiales de gran relación de aspecto ► Menor desgaste de la sonda y mayor vida útil Análisis SEM-EDS correlativo con nuestra función de marcado AFM Analice la misma región de interés (ROI) con SEM, EDS y AFM: ¡Más información = mejores resultados!