Hitachi ofrece corrección de fondo de alta precisión y medición de alta sensibilidad empleando el método de corrección Zeeman polarizado junto con el método de detector dual.
La incorporación de un nuevo modo secuencial rápido* (compatible con el método de llama) hace posible realizar análisis de mayor rendimiento, lo que permite realizar mediciones rápidas, precisas y altamente reproducibles en diversos campos, como la investigación y la gestión de la calidad.
Características
Método de corrección Zeeman polarizado
Corrección del fondo utilizando sólo una lámpara de cátodo hueco
El método de corrección Zeeman polarizado, que utiliza un imán permanente, proporciona una línea de base estabilizada, suprime los efectos de materiales coexistentes que tienen absorción de longitudes de onda adyacentes y facilita un análisis altamente fiable.
Método de doble detector
Aumenta la cantidad de luz muestreada y reduce el ruido
El método de doble detector, por el que la luz de muestra y la luz de referencia se muestrean mediante detectores independientes, reduce el ruido de la línea de base. Además, las dos luces se detectan simultáneamente, lo que aumenta la precisión de las correcciones.
Amplio rango de detección de fondo
Todos los elementos están cubiertos por el método de corrección Zeeman polarizado
La corrección de fondo puede realizarse para elementos que tienen absorción en el rango ultravioleta o en el rango visible. El método de corrección Zeeman polarizado es una opción de método de corrección y tiene la ventaja de que no es necesario seleccionarlo para cada elemento. También puede corregir elementos que no pueden ser corregidos por el método de corrección de la lámpara D2, como el sodio y el potasio.
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