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S-3700N

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microscopio SEM microscopio SEM - S-3700N
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Características

  • Aplicaciones:

    de laboratorio, para la investigación

  • Tipo:

    SEM

  • Ergonomía:

    de sobremesa

Descripción

La enorme cámara de muestras del S-3700N acomoda una variedad de muestras, mientras que el diseño flexible de la cámara permite un análisis analítico superior. Capaz de acomodar una muestra de 300 mm de diámetro con una altura máxima de 110 mm. Un escenario motorizado de 5 ejes hace que la gran cámara sea ideal para una gran variedad de muestras.

El Microscopio Electrónico de Barrido (MEB) se está extendiendo hoy en día a un campo de aplicaciones cada vez más amplio, no sólo en la investigación académica, sino también en diversas industrias, y asociado a esta tendencia, las muestras que requieren observación y análisis también cubren un amplio espectro de aplicaciones. El S-3700N se desarrolló teniendo en cuenta estas aplicaciones tan diversificadas. En su configuración estándar, el S-3700N viene con un detector de electrones secundario, un detector de electrones retrodispersados (BSE) de cinco segmentos y un modo de presión variable (VP).

Esto permite la observación de la mayoría de las muestras en su estado natural o en condiciones húmedas, sin necesidad de un recubrimiento metálico, que se requería en el pasado con el MEB convencional. El S-3700N tiene una enorme cámara de muestras y puede acomodar muestras de hasta 300 mm de diámetro y 110 mm de altura. También tiene muchos puertos para accesorios para soportar la amplia gama de aplicaciones requeridas por los microscopistas de hoy en día, con accesorios que incluyen, por ejemplo, EDX, WDX, EBSD, un visor de cámara y una etapa de enfriamiento. Este sistema versátil y flexible apoyará sus necesidades en el futuro.

La cámara extra grande puede acomodar muestras de hasta 300 mm de diámetro y accesorios EDX/WDX/EBSD simultáneamente. También puede acomodar muestras de hasta 110 mm de altura.

Traducción automática  (ver el original en inglés)