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S-3700N

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Características

  • Aplicaciones:

    de laboratorio, para la investigación

  • Tipo:

    SEM

  • Ergonomía:

    de sobremesa

Descripción

El S-3700N VP-SEM ultra grande tiene un compartimiento del espécimen que pueda manejar tamaños del espécimen hasta 300 milímetros de diámetro y 110 milímetros en altura en una distancia de funcionamiento analítica de 10 milímetros.

El microscopio electrónico de exploración (SEM) está extendiendo hoy en un campo de usos siempre más ancho, no sólo en la investigación académica, pero en varias industrias también, y asociado a esta tendencia, las muestras que requieren la observación y el análisis también cubren una amplia gama de usos. El S-3700N fue desarrollado con estos usos extensamente diversificados en mente. En su configuración estándar, el S-3700N viene con un detector electrónico secundario, un detector retrorreflejado del electrón del cinco-segmento (EEB) y un modo variable de la presión (VP).

Esto permite la observación de la mayoría de las muestras en su estado natural o en condiciones mojadas, sin la necesidad de la capa de metal, que fue requerida en el pasado con los SEM convencionales. El S-3700N tiene un compartimiento enorme de la muestra y puede acomodar las muestras tan grandes como 300 milímetros de diámetro y 110 milímetros de alto. También tiene muchos puertos accesorios para apoyar la amplia gama de los usos requeridos por los microscopistas de hoy, con los accesorios incluyendo, por ejemplo, EDX, WDX, EBSD, un alcance del compartimiento, y una etapa de enfriamiento. Este sistema versátil y flexible apoyará sus necesidades bien en el futuro.

Traducción automática  (ver el original en inglés)