Sistema totalmente integrado basado en el microscopio de sonda de barrido de última generación SmartSPM y el microespectrómetro Raman XploRA.
Compacto, totalmente automatizado y fácil de usar, el XploRA Nano concentra la potencia del AFM-Raman en un paquete asequible pero con todas las funciones, haciendo que la obtención de imágenes TERS sea una realidad para todos. El sistema TERS de eficacia probada.
Plataforma de análisis multimuestra
Las mediciones a escala macro, micro y nanométrica pueden realizarse en la misma plataforma.
Facilidad de uso
Funcionamiento totalmente automatizado, ¡empieza a medir en cuestión de minutos, no de horas!
Auténtica confocalidad
Alta resolución espacial, etapas de mapeo automatizadas, opciones completas de visualización con microscopio.
Alta eficiencia de recogida
Detección Raman top-down y oblicua para una resolución y rendimiento óptimos en mediciones
mediciones co-localizadas y potenciadas por la punta (Raman y fotoluminiscencia).
Alta resolución espectral
Máximo rendimiento en resolución espectral, múltiples rejillas con conmutación automática, análisis de amplio rango espectral para Raman y PL.
Alta resolución espacial
Resolución espectroscópica a nanoescala (hasta 10 nm) mediante espectroscopias ópticas
(Raman y fotoluminiscencia).
Multitécnica / Multientorno
Numerosos modos SPM incluyendo AFM, modos conductivos y eléctricos (cAFM,
KPFM), STM, célula líquida y entorno electroquímico, junto con cartografía química
mediante TERS/TEPL. Control total de los 2 instrumentos a través de una estación de trabajo y un potente software de control, el SPM y el espectrómetro pueden funcionar de forma simultánea o independiente
Robustez/Estabilidad
Escáneres AFM de alta frecuencia de resonancia, funcionamiento lejos de ruidos Alta
rendimiento se obtiene sin aislamiento activo de vibraciones.
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