Microscopio FIB JIB-PS500i

SEMTEMelectrónico de transmisión y barrido

El JIB-PS500i ofrece tres soluciones para ayudar a la preparación de muestras de MET. Se garantiza un flujo de trabajo de alto rendimiento desde la preparación de la muestra hasta la observación TEM. Características TEM-LINKAGE El uso del cartucho de doble inclinación y el soporte para TEM* de JEOL facilita el acoplamiento entre el TEM y la FIB. El cartucho puede acoplarse al portamuestras TEM específico con un solo toque. La OmniProbe 400* (Oxford Instruments) adoptada permite realizar operaciones de toma y manipulaciones precisas y fluidas. Las operaciones de la OmniProbe 400* están integradas en el software de la JIB-PS500i. Para preparar una muestra TEM de forma precisa y eficaz, es esencial comprobar rápidamente el progreso de la preparación. Con su platina de alta inclinación y su esquema de detectores, el JIB-PS500i permite una transición fluida del fresado FIB a la obtención de imágenes para microscopio electrónico de transmisión por barrido (STEM). Las transiciones rápidas entre el procesamiento de láminas y la obtención de imágenes STEM permiten una preparación eficaz de las muestras. PREPARACIÓN AUTOMÁTICA La JIB-PS500i automatiza la preparación de muestras mediante el sistema automático de preparación de muestras STEMPLING2* para TEM. Este sistema automático permite a cualquier operador preparar muestras para TEM sin problemas. Imágenes SEM de ALTA RESOLUCIÓN y ALTO CONTRASTE Deje de dudar, deje de perderse el punto final en el fresado. Las imágenes SEM de alta calidad le ayudan. Sistema de detección de señales Dispone de varios detectores, como el SED estándar, el UED y el iBED. La selección del detector óptimo permite observar imágenes nítidas de diversas muestras en distintas condiciones experimentales.