Espectrómetro visible JPS-9030

de rayos Xde transferencia

La JPS-9030 está equipada con una interfaz de usuario de nuevo diseño que mejora aún más la operatividad y estrena también un nuevo, moderno y elegante diseño exterior. Perfil de profundidad optimizado para la aplicación La fuente de iones de grabado de tipo Kaufman de nuevo desarrollo proporciona velocidades de grabado de 1 nm/min a 100 nm/min (equivalente a SiO2), y permite una amplia gama de ajustes. Es capaz de realizar perfiles de profundidad adecuados para cualquier aplicación, desde mediciones que exigen precisión hasta procesos que requieren velocidad. El montaje de la fuente de iones de grabado de tipo Kaufman en la cámara de intercambio de muestras facilita la prevención de la contaminación de la cámara de medición. El software de nuevo desarrollo proporciona una facilidad de uso aún mayor SpecSurf Ver. 2.0 incorpora ahora una interfaz gráfica de usuario tipo cinta, que ofrece un entorno fácil de usar en el que todas las operaciones se pueden realizar con el ratón. Con la función de análisis cualitativo automático propia de JEOL, es posible realizar secuencialmente análisis cualitativos, cuantitativos y de estado químico para múltiples puntos de adquisición. Sensibilidad de superficie ultra alta El JPS-9030 admite técnicas como XPS de ángulo resuelto (ARXPS) y XPS de reflexión total (TRXPS), y es capaz de realizar análisis ultra sensibles de las superficies superiores de 1 nm (método de medición estándar de 6 nm o más). Gran cantidad de opciones Fuentes de rayos X monocromáticas Fuente de iones en racimo de gas argón adecuada para muestras orgánicas Sistema de calentamiento por infrarrojos capaz de alcanzar temperaturas de 1.000 °C o superiores Recipiente de transferencia para proteger las muestras de la exposición a la atmósfera Especificaciones Intensidad (Mg Kα, equivalente a 300 W) - 1.000.000 cps o más (en Ag 3d5/2 FWHM es 1,0 eV) Fuente de rayos X: ánodo doble de Mg/Al