Descripción generalEl escáner Aperio CS5 ofrece captura precisa de portaobjetos en un diseño compacto de sobremesa apto para una bancada de laboratorio estándar. Admite formatos 1x3 y 2x3, salida DICOM y SVS, Z-stacking y aumentos de 20x o 40x, permitiendo capturar secciones completas y digitalizar rápidamente casos complejos para revisión remota. Solo para uso en investigación. No para uso en procedimientos de diagnóstico.
Características clave- Diseño de sobremesa con capacidad para portaobjetos 1x3 o 2x3 (hasta cinco portaobjetos 1x3 pulgadas o dos 2x3 pulgadas según configuración).
- Salida de archivos estandarizada: DICOM y SVS para interoperabilidad.
- Capacidad de Z-stacking para revisar varios planos focales.
- Opciones de escaneo 20x y 40x (40x mediante multiplicador óptico 2x).
- Rendimiento rápido: menos de un minuto a 20x para regiones especificadas; aproximadamente 50 segundos para un área 20x de 15mm×15mm.
Escaneado de precisión y flujo de trabajoEl Aperio CS5 combina ópticas de alto rendimiento y automatización inteligente para generar imágenes de alta resolución, simplificando la digitalización y la integración con sistemas de laboratorio para facilitar la colaboración y la revisión de casos entre sitios.
Escaneo manual y capacidades avanzadasEl modo de escaneo manual permite control total del usuario sobre puntos de enfoque, región de escaneo y planos focales para rescans de alta calidad sin retirar los portaobjetos. El sistema admite grandes especímenes y casos difíciles, optimizando los tiempos de respuesta.
Especificaciones del producto- Método de escaneo: Line scanning (US Patent 6,711,283)
- Objetivo: Olympus UPLXAPO, 20x, 0,80 NA, 0,6 mm WD, 9 mm focal, 26,5 FN (40x mediante multiplicador óptico 2x)
- Tasa de éxito de escaneo: 98% a la primera
- Dimensiones (AlxAnxPr): 47 cm x 36,7 cm x 49 cm; Peso: 31,5 kg (69 lbs)
- Resolución: 20x = 0,50 μm/pixel; 40x = 0,25 μm/pixel
- Formatos de portaobjetos compatibles: 1x3 y 2x3 (incluyendo grandes especímenes)
- Salida de archivos: SVS y DICOM
- Funciones: Z-stacking, Escaneo manual (puntos de enfoque, región de escaneo, planos focales)