Mejore la toma de decisiones en materia de calidad del producto y ahorre tiempo obteniendo más información de las muestras con los sistemas de inspección óptica DM8000 M y DM12000 M.
Estos microscopios de inspección permiten examinar y analizar de forma rápida y fiable materiales como semiconductores y obleas, y le permiten realizar controles de calidad y detectar defectos con rapidez.
Revele detalles ocultos
Detecte defectos y realice visiones generales con rapidez para mejorar los análisis y la toma de decisiones.
Optimice su forma de trabajar
La automatización y funcionamiento sencillo para el usuario minimizan la necesidad de realizar ajustes, ahorrando valioso tiempo durante la instalación.
Preserve la comodidad de los usuarios en un entorno seguro y controlado
Trabaje en una postura relajada, garantizando un confort óptimo durante toda la inspección para ayudar a incrementar la productividad
Visualice estructuras y defectos de forma rápida
Detecte y analice diversas estructuras y defectos en sus muestras como arañazos y contaminación. Escoja de una variedad de métodos de iluminación y contraste, tales como campo claro, campo oscuro, polarización, contraste por interferencia diferencial (DIC), fluorescencia (Fluo) e infrarrojo (IR), para ayudarle a inspeccionar las muestras de forma rápida y fiable. Mejore la resolución con luz ultravioleta (UV).
Obtenga información adicional sobre la superficie con la iluminación oblicua. Combínela con UV para mejorar aún más el contraste.
Halle defectos de forma más rápida durante el análisis de fractura con un mayor contraste, respaldado con la técnica avanzada de campo oscuro con objetivos Plan Fluotar