Espectrómetro XRF 2830 ZT

para análisis de agua

El sistema 2830 ZT es un analizador de obleas de fluorescencia de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDXRF) que ofrece las funciones más avanzadas para medir la composición y el espesor de películas delgadas. El analizador de obleas 2830 ZT de PANalytical ha sido diseñado específicamente para las industrias de semiconductores y de almacenamiento de datos, permitiendo determinar la composición de las capas, el espesor, los niveles de dopantes y la uniformidad de la superficie en una amplia variedad de obleas de hasta 300 mm.