XRD2DScan es el paquete de software de Malvern Panalytical para la visualización, la corrección, la integración, la conversión y el análisis de datos de difracción 2D.
Características
Análisis de datos 2D de difracción y dispersión
Los datos 2D de difracción y dispersión contienen una gran cantidad de información. El XRD2DScan ofrece una caja de herramientas completa y fácil de usar para extraer y analizar esta información.
Además de la detección de las fases cristalinas (minerales) y amorfas (polímeros), puede estudiar sus características de microestructura (tamaño de grano, orientación preferencial, cristalinidad, grado de orden, etc.), puede calcular las figuras de polo para muestras texturizadas y analizar la falta de homogeneidad de la muestra a través del mapeo de la intensidad del pico, la posición 2Theta y el ancho del pico con un conjunto de patrones 2D. La función de mapeo también es una herramienta muy útil para representar y revisar cómodamente un conjunto de datos de un pocillo.
Tratamiento y correcciones de datos 2D
Además de las herramientas de análisis de datos 2D, el XRD2DScan ofrece varias opciones útiles para el tratamiento y la corrección de datos, incluida la corrección de campo plano, la corrección de fondo, el enmascaramiento de haz directo o reflejos fuertes (p. ej., de un sustrato). También puede rotar y recortar una imagen 2D, puede mejorar la calidad de una imagen 2D aplicando segmentación de datos, suavizado, etc. Puede fusionar varios archivos para mejorar la relación pico-ruido u obtener una representación sumativa de un conjunto de varios archivos. La imagen 2D resultante se puede exportar como un archivo XRDML, ASC, PSF o BMP.