Espectrómetro XRF EDX series

LEDde mesacompacto

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva EDX-7000/8000 mide la energía (keV) y la intensidad de los rayos X fluorescentes generados para determinar el tipo y el contenido de los elementos que componen una muestra. Se aplica para el análisis elemental no destructivo de muestras sólidas, en polvo y líquidas. Es ampliamente utilizado por fabricantes de electrónica y automóviles de todo el mundo. Los espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva EDX-7000P y EDX-8000P han superado la homologación BfS, las normas de seguridad prescritas por el "Bundesanstalt für Strahlenschutz" alemán BfS (Instituto Federal de Seguridad Radiológica). Principio de generación de rayos X fluorescentes Cuando se irradia una muestra con rayos X desde un tubo de rayos X, los átomos de la muestra generan rayos X únicos que se emiten desde la muestra. Dichos rayos X se conocen como "rayos X fluorescentes" y tienen una longitud de onda y una energía únicas que son características de cada elemento que los genera. Por consiguiente, se puede realizar un análisis cualitativo investigando las longitudes de onda de los rayos X. Como la intensidad de los rayos X fluorescentes es función de la concentración, también es posible realizar análisis cuantitativos midiendo la cantidad de rayos X en la longitud de onda específica de cada elemento. Diseño funcional Amplia cámara de muestras de tamaño reducido La anchura instalada es un 20% menor que la del instrumento anterior gracias a su cuerpo de tamaño compacto. Lámpara LED de alta visibilidad Cuando se generan rayos X, se encienden un indicador de rayos X en la parte posterior del instrumento y una lámpara X-RAYS ON en la parte frontal, de modo que se puede supervisar el estado del instrumento incluso a distancia.