Microscopio STEM

ópticopara investigación en materialespara nanocaracterización

para la caracterización multimodal de propiedades morfológicas, químicas y estructurales a nanoescala de materiales funcionales, películas finas y partículas sintéticas, con un rendimiento 4D-STEM sobresaliente y una facilidad de uso sin precedentes. Sincronización del escaneado con imágenes de difracción, adquisición EDS y supresión del haz. Análisis y procesamiento de datos 4D-STEM integrados y casi en tiempo real Ventajas de rendimiento gracias a la precesión del haz de electrones y al ultravioleta cercano Un nuevo enfoque de la experiencia del usuario STEM 4D-STEM analítico La imagen completa de la interacción entre el haz de electrones y la muestra 4D-STEM es el método de microscopía preferido para la caracterización multimodal a nanoescala de las propiedades de los materiales, como la morfología, la química y la estructura. En cada píxel del conjunto de datos STEM, TESCAN TENSOR adquiere un patrón de difracción y un espectro EDS, de forma rápida y perfectamente sincronizada. Juntos, los datos de difracción y espectroscopia encapsulan la imagen completa de la interacción entre el haz de electrones y la muestra, a partir de la cual puede obtenerse una amplia gama de propiedades de los materiales. Análisis y procesamiento de datos 4D-STEM casi en tiempo real Una característica verdaderamente única de TESCAN TENSOR es Explore, la plataforma integrada de TENSOR para el procesamiento y análisis en tiempo real de conjuntos de datos de difracción de electrones de barrido a gran escala. Explore pone las mediciones 4D-STEM al alcance de los científicos de materiales, investigadores de semiconductores y análisis de fallos, y cristalógrafos, sin necesidad de conocimientos expertos en óptica STEM o análisis y postprocesado de datos 4D-STEM. Los usuarios avanzados tienen la posibilidad de ajustar a su gusto las propiedades ópticas optimizadas preestablecidas para cada medición STEM o 4D-STEM. Además,