Difractómetro SAXS Nano-inXider

WAXSGISAXSpara la investigación

Caracterización inteligente a nanoescala Directamente de las muestras a los resultados Mediciones precisas y de alto rango dinámico Datos simultáneos desde la escala atómica hasta la nanoescala Bajo coste de propiedad Acelere su investigación El Nano-inXider le da respuestas sobre la nanoestructura de su muestra, ya sea en sólido, líquido, gel, polvo o película fina. Ejemplos de aplicaciones son: Distribución del tamaño de las partículas, desde unos pocos nanómetros hasta más de 250 nm Análisis de mesofase de materiales autoensamblados, como cristales líquidos, copolímeros en bloque, sistemas de administración de nanofármacos Nanoestructura de biomateriales como tensioactivos, proteínas en soluciones, hidrogeles Índices de cristalización y estructura laminar de polímeros semicristalinos durante estudios de tensión o temperatura Análisis de orientación en fibras y películas Con el diseño de Nano-inXider SMART, sólo tiene que poner su muestra en la cámara. Luego, obtenga sus resultados. Es sencillo y rápido. Muestra Sencillo. Sólo tiene que poner su muestra en la cámara. El instrumento se autoalinea sin necesidad de interacción por parte del usuario. Medición El flujo de trabajo de adquisición de datos es automático y rápido. Los datos de dispersión de rayos X se normalizan automáticamente sin necesidad de calibración por parte del usuario. Esto se consigue mediante un potente paquete de software integrado en un equipo totalmente motorizado que utiliza una configuración única de detector dual fijo. Análisis Los datos de dispersión precisos que muestra el instrumento al instante pueden utilizarse sobre la marcha para obtener información rápida sobre la muestra o para realizar un análisis más asistido mediante nuestro software XSACT. Se dispone de una gran variedad de funciones de análisis y se proporcionan parámetros rápidos de nanoestructura con unos pocos clics.