Microscopios de mesa TESCAN

Aumento: 1.000.000 unit

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SEM UHR analítico de Campo libre para caracterización de materiales a nano escala Caracterización sin compromiso de todo tipo de materiales a nanoescala Ideal para la caracterización de materiales a bajas energías de haz con máxima ...

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FIB-SEM nano analítico versátil para amplias capacidades de investigación de materiales Preparación de micro muestras con alta precisión Imagen SEM libre de campos con ultra alta resolución con nano análisis Campo de visión extendido ...

Una combinación única de Plasma FIB y FE-SEM UHR libre de campo para la caracterización de materiales a multiescala Alto rendimiento, procesamiento FIB de área grande de hasta 1 mm Preparación de micromuestra sin Ga Ultra alta ...