Cámara para microscopio iKon-M SY

digitalUSB

La serie iKon-M SY 934 de Andor cuenta con un sensor retroiluminado de alta calidad para la detección directa de rayos X. Una práctica ventana de lámina de berilio bloquea las longitudes de onda visibles con un mínimo "endurecimiento del haz" de las energías de rayos X, lo que proporciona un rango de energía de detección directa a partir de 20 keV. 5 años de garantía de vacío Ventana 'Standalone' Be Lectura de múltiples megahercios Funcionamiento en modo cultivo Conexión USB 2.0 Vista general La serie iKon-M SY 934 de Andor cuenta con un sensor retroiluminado de alta calidad para la detección directa de rayos X. Una práctica ventana de lámina de berilio bloquea las longitudes de onda visibles con un mínimo "endurecimiento del haz" de las energías de rayos X, lo que proporciona un rango de energía de detección directa a partir de 20keV. Este conjunto de sensores de 1024 x 1024 con píxeles de 13 x 13 μm ofrece un alto rango dinámico y una alta resolución espacial. La perfecta selección por software de una gama de velocidades de lectura de kHz y Multi-MHz proporciona un ruido de lectura excepcionalmente bajo y velocidades de cuadro más rápidas respectivamente. Características UltraVac™ - 5 años de garantía. Proceso de vacío patentado y probado, crítico para la integridad sostenida del vacío, la protección del sensor y una refrigeración inigualable, año tras año. ventana Be 'independiente' - Ventana de berilio de 200 µm como estándar tamaño de píxel de 13 x 13 µm - Equilibrio óptimo de rango dinámico y resolución Lectura de ruido ultrabajo - La electrónica inteligente de bajo ruido ofrece el sistema más "silencioso" disponible Lectura de píxeles a varios megahercios - Se pueden alcanzar altas velocidades de fotogramas (5 MHz en modo de visualización, 50 kHz para la máxima sensibilidad y relación señal/ruido) Conexión USB 2.0 - USB plug and play - sin caja de control Pinza de línea de base mejorada - Precisión cuantitativa de las mediciones dinámicas.