Resolución a escala atómica
Gran tamaño de muestra
DSP (procesamiento digital de señales) para un gran rendimiento
Sistema operativo en tiempo real integrado
Conexión Fast Ethernet con el ordenador
Multifunción
Microscopio de fuerza atómica (AFM)
Microscopio de fuerza lateral (LFM)
Análisis de fuerza: Curva I-V, Curva I-Z, Curva de fuerza
Imagen 3D en línea en tiempo real para una mejor observación
Señales multicanal para más detalles de la muestra
Escaneo Trace-Retrace, Escaneo Back-Forward
Análisis múltiple: Granularidad y Rugosidad
Carga de datos para análisis posteriores
Funcionamiento sencillo
Rápido enganche automático de la punta
Fácil cambio del soporte de puntas, para cambiar fácilmente entre STM y AFM
Control digital completo, reconocimiento automático del estado del sistema
Movimiento de la muestra basado en software
Función Nano-Movie: Recogida, almacenamiento y reproducción continua de datos
Especificaciones
Parámetros técnicos
Alcance de barrido X-Y ~ 10 micrómetros
Distancia Z: ~ 2 micrómetros
Píxeles de imagen: 128 × 128, 256 × 256, 512 × 512, 1024 × 1024
Ángulo de exploración: 0 ~ 360
Velocidad de exploración: 0.1 ~ 100 Hz
Electrónica
CPU: procesador digital de señales (DSP) de 32 bits a 600 MHz de Texas Instruments
DAC rápido de 16 bits
ADC rápido de 16 bits
Alta tensión: 5 canales
Interfaz de comunicación: 10M/100M Fast Ethernet
Mecánica
Tamaño de la muestra: Hasta 45 mm de diámetro, alcanzan los 15 mm cuando se utiliza un AA2000/AA3000, y llegan a los 30 mm cuando se utiliza el AA5000;
Enganche: Enganche automático con una distancia de recorrido de 30 mm y una precisión de 50 nm
Diseño modular para un mantenimiento cómodo y futuras actualizaciones
Software
Software de control en línea y software de procesamiento de imágenes fuera de línea
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