El microscopio de sonda de barrido AA3000 es nuestro modelo más popular. Esta unidad está diseñada para aplicaciones de investigación e industriales, en las que el usuario debe realizar análisis rápidos y sencillos. El detector está integrado directamente en la base, lo que elimina la posibilidad de dañarlo al manipularlo. El AA3000 es capaz de realizar el modo de contacto, el modo de golpeteo, la microscopía de fuerza lateral y la microscopía de barrido en túnel. La unidad estándar está equipada para visualizar áreas de muestra de hasta 10 micras por 10 micras. El sistema puede personalizarse para medir áreas mayores. Con un procesador de señales digitales (DSP) TMS320C642 en el interior de los sistemas, el AA3000 puede manejar complicadas tareas multifuncionales de forma eficiente. Un sistema operativo en tiempo real de SPM/DNA está integrado en el sistema AA3000 SPM.
Características
Alto rendimiento
Resolución a escala atómica
Gran tamaño de muestra
DSP (procesamiento digital de señales) para un gran rendimiento
Sistema operativo en tiempo real integrado
Conexión Fast Ethernet con el ordenador
Multifunción
Microscopio de fuerza atómica (AFM)
Microscopio de fuerza lateral (LFM)
Análisis de fuerza: Curva I-V, Curva I-Z, Curva de fuerza
Imagen 3D en línea en tiempo real para una mejor observación
Señales multicanal para más detalles de la muestra
Escaneo Trace-Retrace, Escaneo Back-Forward
Análisis múltiple: Granularidad y Rugosidad
Carga de datos para análisis posteriores
Fácil manejo
Rápido enganche automático de la punta
Fácil cambio del soporte de puntas, para cambiar fácilmente entre STM y AFM
Control digital completo, reconocimiento automático del estado del sistema
Movimiento de la muestra basado en software
Función Nano-Movie: Recogida, almacenamiento y reproducción continua de datos
Diseño modular para un mantenimiento cómodo y futuras actualizaciones
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