Angstrom Advanced ofrece una gama completa de elipsómetros para la medición del espesor de películas finas, la caracterización óptica del índice de refracción y el análisis del coeficiente de extinción (n y k). Los elipsómetros Angstrom Advanced Inc se pueden utilizar para muchas aplicaciones diferentes y se utilizan en algunos de los laboratorios más prestigiosos como el MIT, la NASA, UC Berkeley, Yale University, Duke University, NIST y muchos más.
El PHE101 es el último elipsómetro de longitud de onda discreta con muchas características nuevas, como biblioteca de materiales, ángulo variable amplio, un segundo láser para alineación y un potente software que hacen del elipsómetro PHE101 de alta precisión y repetición.
Excelente precisión y repetición
Rápido funcionamiento del analizador giratorio.
Potente software con biblioteca de materiales
Ángulo variable más amplio 10-90
El enfoque automático compensa la topografía de la muestra y la desalineación del "arco" de la oblea
Gran estabilidad y reproducibilidad del ángulo medido, mejor que 0,01
Velocidad de medición inferior a 1 segundo
El elipsómetro PHE101 es un elipsómetro de longitud de onda discreta ideal diseñado para medir el índice de refracción, el coeficiente de extinción (n y k) y el espesor de películas monocapa y multicapa.
El elipsómetro PHE101 realiza lecturas rápidas y precisas gracias a su analizador/detector óptico de precisión y a su diseño mecánico estable. El elipsómetro PHE101 se suministra completo con un paquete de software Windows integrado, que mejora aún más la velocidad y la facilidad de manejo del instrumento.
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