Elipsómetro espectroscópico PHE 102

de laboratorio

Angstrom Advanced ofrece una gama completa de elipsómetros para la medición del espesor de películas finas, la caracterización óptica del índice de refracción y el análisis del coeficiente de extinción (n y k). Nuestros elipsómetros se pueden utilizar para muchas aplicaciones diferentes y se utilizan en algunos de los laboratorios más prestigiosos como el MIT, la NASA, la UC Berkeley, la Universidad de Yale, la Universidad de Duke, el NIST y muchos más. Medición rápida en el rango UV/VIS/NIR de 250 - 1100 nm con detector de matriz de diodos o espectrómetro motorizado (monocromador) Ampliación opcional del rango espectral al NIR (700 - 1700 nm) o (700 - 2100 nm) Ampliación opcional de la gama UV-VIS (190 - 1100 nm) El polarizador giratorio proporciona una medición precisa de cualquier estado de polarización Analizador de barrido por pasos para una adquisición de alta velocidad y bajo ruido Ángulo variable de 10-90° También está disponible el ángulo automatizado de 10-90 Determinación rápida del espesor y el índice de refracción de muestras monocapa o multicapa Los datos Psi y Delta de amplio rango se miden automáticamente y se ajustan mediante el software PHE-102 El software PHE-102 es el programa más completo disponible para la adquisición y el análisis de datos. Combina algoritmos de ajuste matemático de última generación con una amplia selección de opciones de modelado para un análisis de datos rápido y preciso. Un avanzado software de elipsometría espectroscópica Biblioteca incorporada de propiedades de materiales, incluye varios cientos de modelos de materiales Mezcla de nuevos materiales utilizando propiedades de materiales conocidas