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Sistema de inspección Wafer
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Descripción
El sistema de inspección de obleas detecta contaminaciones, o defectos y errores, entre los patrones de circuitos de una oblea de silicio mediante el sistema SEM o el sistema de campo oscuro.
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Catálogos
Galvanometer Optical Scanner
24 Páginas
Minituarized AC Servomotors
16 Páginas
Linear Actuator
20 Páginas
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Semiconductor
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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.