Contador de partículas láser PM3003SN
para sala blancaa distancia

contador de partículas láser
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Características

Tecnología
láser
Aplicaciones
para sala blanca
Otras características
a distancia

Descripción

Introducción El módulo central del sensor del contador óptico de partículas para salas blancas PM3003SN se basa en la tecnología de dispersión láser, que puede detectar y calcular con precisión el número de partículas suspendidas con diferentes tamaños de partícula en el aire. El sensor puede emitir simultáneamente la cantidad de partículas en 6 canales, incluyendo 0,3μm, 0,5μm, 1,0μm, 2,5μm, 5,0μm y 10μm (PCS/L, pcs/m³, pcs/28,3L ), perfecto para la monitorización de la contaminación por partículas en salas limpias. Características - Número de partículas de salida (PCS/L, PCS/m³, PCS/28,3L) en 6 canales, incluidos 0,3μm, 0,μm, 1,0μm, 2,5μm, 5,0μm y 10μm - Láser lineal de grado industrial de alta potencia, identificación precisa - Flexible para tener una bomba para el muestreo - Amplia temperatura de trabajo -30℃~70℃ - Con diseño de regulador de voltaje y compatibilidad EMC, fuerte capacidad antiestática Especificaciones - Principio de funcionamiento: dispersión láser - Rango de medición:0~10,000,000 pcs/L (1pcs/L=28.3pcs/cf) - Canales de salida:>0,3μm, >0,5μm, >1,0μm, >2,5μm, >5,0μm, >10μm - Resolución:1 pcs/L - Error de medición:100pcs/L: ±30% de la lectura Condición: 0C ~ 40C,50+10%RH;(0°C ~ 40°C, 50 ±10%RH. Instrumento de referencia TSI 9306. TSI 9306 eficiencia de recuento 50% @ 0,3 µm y 100% para partículas >0,45 µm) - Tiempo de respuesta:1seg - Tiempo hasta la primera lectura:≤ 8 segundos - Caudal de muestreo:Recomendado 2,83 L/min - Condiciones de trabajo:-30°C ~ 70°C, 0-95%RH (sin condensación) - Condiciones de almacenamiento:-40°C ~ 85°C, 0-95%RH (sin condensación) - Fuente de alimentación:DC 5V±0.1V, onda de ondulación < 50mV - Corriente de trabajo:<150mA - Corriente en espera:<25mA - Dimensiones:W82*H40.2*D26.3 mm - Salida digital: UART_TTL/IIC (3,3V/5V), RS485 (personalizable) - Estándar: Cumple con JJF 1190-2008

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Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 nov. 2024 Shanghai (China)

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