Alta velocidad de fresado: preparación rápida y eficaz de muestras de materiales duros
Fresado transversal y plano: opciones flexibles para diferentes aplicaciones
Refrigeración criogénica (opcional): reduce el daño en muestras sensibles a la temperatura
Interfaz intuitiva: controles intuitivos en pantalla táctil para facilitar su uso
Optimizado para SEM y AFM: compatible con microscopios de Hitachi y de otros fabricantes
Descripción general
Los sistemas de fresado iónico IM4000II e IM5000 de Hitachi permiten una preparación de muestras de alta precisión para microscopía electrónica de barrido. Tanto si se analizan metales, semiconductores, polímeros, cerámicas o materiales estratificados, estos sistemas garantizan secciones transversales de alta calidad y un pulido superficial con un mínimo de artefactos.
Diseñados para la investigación académica, el control de calidad industrial y los laboratorios de ciencia de materiales, ambos sistemas ofrecen resultados rápidos y repetibles, lo que los convierte en imprescindibles para aplicaciones avanzadas de microscopía electrónica.
El IM4000II es un sistema «todo en uno» para el fresado de secciones transversales y/o plano, lo que lo convierte en una opción flexible para los laboratorios que necesitan una herramienta básica de preparación de muestras.
El IM5000, más avanzado, ofrece una mayor velocidad de fresado y fresado de secciones transversales de amplia superficie, lo que lo hace perfecto para aplicaciones exigentes y laboratorios que necesitan un alto rendimiento.
Características y ventajas
Reduce los tiempos de procesamiento sin comprometer la integridad de la muestra.
El IM4000II alcanza una velocidad de fresado de 500 μm/h, mientras que el IM5000 ofrece una impresionante velocidad de 1 mm/h o más (para muestras de Si con una protuberancia de 100 μm).
Perfecto para materiales duros, como metales y semiconductores, que requieren un fresado prolongado.
Disfruta de la flexibilidad necesaria para preparar las muestras exactamente como las necesitas.
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