Sistema de preparación de muestras automático ArBlade 5000

para microscopio electrónicode refrigeraciónfresado con haz de iones

El sistema de haz de iones amplio más avanzado para la producción de muestras de sección transversal o de fresado plano de una calidad excepcional para microscopía electrónica. Características Velocidad de fresado de secciones transversales: ¡1 mm/hora!*1 El ArBlade 5000 está equipado con un cañón de iones de argón de fresado rápido con una velocidad de fresado dos veces mayor, lo que garantiza un rendimiento de vanguardia y reduce drásticamente el tiempo de procesamiento para la preparación de secciones transversales. ¡Anchos de sección transversal de hasta 8 mm! Para necesidades de fresado de gran superficie, como en aplicaciones de dispositivos electrónicos, se ha desarrollado un revolucionario diseño de soporte de fresado de secciones transversales que permite la fabricación en áreas más amplias. Ejemplo de fresado de secciones transversales de gran superficie (Muestra: componente electrónico; tiempo de fresado: 5 horas) Modelo híbrido: configuración de fresado dual disponible El nuevo sistema de fresado iónico está equipado con modos de fresado transversal y de fresado plano para satisfacer las necesidades de las aplicaciones más complejas. Equipado con múltiples soportes, el sistema ArBlade 5000 se adapta a una amplia gama de aplicaciones. Fresado transversal Se utiliza para producir secciones transversales más amplias y sin distorsiones, sin aplicar tensión mecánica a la muestra Imagen del fresado transversal Fresado plano Se utiliza para eliminar artefactos de la capa superficial y realizar el pulido final tras las técnicas tradicionales de pulido mecánico. Unidad de refrigeración* Las versiones criogénicas del ArBlade 5000 proporcionan una refrigeración activa de la plataforma de fresado transversal durante el procesamiento de la muestra. Un dewar de nitrógeno líquido integrado, conectado a la plataforma transversal, elimina eficazmente el calor generado durante el fresado por haz de iones de la máscara de protección y de la muestra.