Microscopio AFM SignatureSPM

ópticoRamande laboratorio

SignatureSPM es el primer microscopio construido sobre una plataforma de caracterización multimodal, que integra un microscopio de fuerza atómica (AFM) automatizado con un espectrómetro Raman/fotoluminiscencia, lo que permite realizar verdaderas mediciones colocalizadas de las propiedades físicas y químicas. A través del conocimiento físico y químico combinado obtenido en una única medición, y en tiempo real, el investigador puede obtener un análisis fiable y completo de la muestra, con un tiempo de conocimiento acortado como resultado de una menor manipulación de la muestra y una adquisición de datos de con un alto nivel de confianza, gracias a la correlación de las mediciones de diferencia. Todos los modos AFM incluidos de serie Todos los modos AFM están incluidos en el paquete básico de SignatureSPM: Microscopía de Sonda Kelvin, Microscopía de Fuerza de Respuesta Piezoeléctrica, Microscopía de Fuerza Magnética, Nanolitografía, Mediciones de Curva de Fuerza. Espectrómetro de amplio rango optimizado para Raman y fotoluminiscencia Diseñado para la obtención de imágenes espectroscópicas, el espectrómetro del SignatureSPM garantiza una pérdida de luz mínima gracias a su diseño acromático y a su impresionante reflectividad luminosa del 95%. Proporciona una capacidad única para realizar mediciones Raman y PL precisas y eficientes gracias a su diseño versátil que puede acomodar hasta 3 rejillas para cubrir un amplio rango espectral. Verdaderas mediciones co-localizadas con "Probe away" El comando de software "Probe away" aleja el cantilever de la superficie de la muestra para poder obtener mapas Raman confocales totalmente libres de obstrucciones. Con el comando "Probe back", la punta del AFM volverá automáticamente a su punto de análisis anterior en la superficie de la muestra.