Microscopio óptico JSM-IT510 InTouchScope™

SEMpara la investigación3D

Los microscopios electrónicos de barrido (SEM) son herramientas indispensables no sólo para la investigación, sino también para el control de calidad y los centros de fabricación. En esos escenarios, es necesario realizar repetidamente los mismos procesos de observación, por lo que ha surgido la necesidad de mejorar la eficiencia del proceso. Con el JSM-IT510, la recién añadida función Simple SEM permite a los usuarios "dejar a un lado la operación manual repetitiva", necesaria para la observación SEM, haciendo que la observación SEM sea más eficiente y sencilla. Características SEM simple Sólo tiene que seleccionar el campo de destino Simple SEM facilita el trabajo diario. Navegador de intercambio de muestras Guía desde el intercambio de muestras hasta la observación automática Seguro y sencillo Specimen Exchange Navi Ampliación de la imagen óptica *1, transición a la imagen SEM La función Zeromag simplifica la navegación proporcionando una transición fluida de la imagen óptica a la imagen SEM. El SEM, la imagen óptica y el gráfico del soporte están vinculados para obtener una vista global de las ubicaciones de análisis. EDS integrado para composición elemental en tiempo real durante la observación Live Analysis es una función que muestra el espectro EDS o los mapas de elementos en tiempo real durante la observación de la imagen. Esta función puede apoyar la búsqueda y proporcionar una alerta para los elementos objetivo. Variedad de opciones avanzadas Detector de electrones secundario híbrido de bajo vacío (LHSED)* LHSED es una opción. Y también se requiere LV (Low Vacuum) o L A (Low Vacuum & Analysis). 3D en directo * Las imágenes obtenidas por un nuevo detector BE de cuadrante* pueden visualizarse como una imagen 3D en vivo. las imágenes 3D pueden representar claramente la forma de un espécimen, incluso para aquellos con información topográfica sutil.