Espectrómetro EDXRF JED-2300

El JED-2300 Analysis Station Plus, un sistema EDS para realizar análisis elementales mediante la detección de rayos X característicos generados a partir de una muestra, se desarrolló basándose en el concepto de diseño "Sin fisuras desde la observación hasta el análisis" utilizando muchos años de experiencia de JEOL en óptica de electrones y EDS. Este sistema EDS está totalmente integrado con nuestros SEMs, FIB-SEMs y TEMs para la gestión integral de datos (imágenes de microscopio y datos de rayos X) con una interfaz de usuario fácil de entender. En el caso de los sistemas FIB-SEM equipados con platinas motorizadas, la gestión de datos en grandes áreas se facilita con operaciones visualizadas, como imágenes de microscopio con distintos aumentos o distintas posiciones de platina, y ubicaciones de mapas elementales. iconos de operación Los iconos están dispuestos de izquierda a derecha y guían al usuario a través de cada paso de la recogida de datos. Además, las funciones de cada icono se muestran para la comprensión visual. visualización de imágenes indexadas El operador puede acceder rápidamente a los datos adquiridos desde la visualización de imágenes indexadas. ♦Lista de datos de análisis Las imágenes y los resultados de los análisis se guardan automáticamente en la misma carpeta para un acceso rápido. Cuando el operador selecciona cualquier área en la visualización de imágenes indexadas, los datos de las áreas respectivas se mostrarán en la lista de datos de análisis, simplificando así la gestión de datos. Se observa que la forma del pico de las líneas de rayos X Bi es diferente entre el espectro adquirido (rosa) y el espectro calculado (azul). Un nuevo examen de la posición del pico de Bi indicó la presencia de Pb. Cuando se añadió Pb a los resultados del análisis, las dos formas de los picos coincidieron. A partir de este resultado, se confirmó que el espécimen contenía Pb.