Microscopio óptico DM ILM
de inspecciónpara investigación en materialesinvertido

Microscopio óptico - DM ILM - Leica Microsystems - de inspección / para investigación en materiales / invertido
Microscopio óptico - DM ILM - Leica Microsystems - de inspección / para investigación en materiales / invertido
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Características

Tipo
óptico
Aplicaciones
de inspección, para investigación en materiales
Ergonomía
invertido
Técnica de observación
de fluorescencia, polarizador
Fuente de luz
de halógeno
Opciones y accesorios
asistido por ordenador

Descripción

Descripción general
Todas las tareas de inspección y medición industriales se realizan de forma rápida y eficiente con el microscopio invertido modular Leica DM ILM. El sistema óptico ofrece resolución y contraste en luz incidente, campo claro, contraste de polarización y fluorescencia. El Leica DM ILM está diseñado para manejar muestras grandes y agilizar la inspección y los ensayos en serie de grandes cantidades de muestras.

Características principales
  • Adecuado para aplicaciones específicas: Está disponible una variedad de paquetes de software de adquisición y análisis de imágenes según la aplicación.
  • Elija entre seis tubos: Seis opciones de tubo más el Ergotube (0°–35°) permiten una postura de trabajo ergonómica.
  • Fuente de alimentación integrada: Fuente integrada para lámpara halógena 6V/35W que facilita el control y ahorra espacio.


Uso previsto / Aplicaciones
Investigación de materiales y control de calidad industrial, metalografía e inspección de materiales industriales; capaz de inspecciones en serie de grandes cantidades de muestras.

Especificaciones técnicas
  • Modelo: DM ILM
  • Fabricante: Leica Microsystems
  • Modos ópticos: luz incidente, campo claro, contraste de polarización, fluorescencia
  • Construcción: microscopio invertido modular para muestras grandes
  • Tubos: seis opciones de tubo más Ergotube (0°–35°)
  • Iluminación: fuente de alimentación integrada para lámpara halógena 6V/35W
  • Aplicaciones: metalografía, inspección de materiales industriales, inspección y medición en serie
  • Software: compatible con varios paquetes de adquisición y análisis de imágenes

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