Sistema de preparación de muestras automático EM TXP
de laboratoriopara la investigaciónTEM

sistema de preparación de muestras automático
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Características

Tipo de funcionamiento
automático
Aplicaciones
de laboratorio, para la investigación, TEM
Configuración
de mesa

Descripción

El sistema Leica EM TXP es un dispositivo de preparación de blancos para fresar, aserrar, triturar y pulir muestras antes de realizar un examen mediante técnicas de SEM, TEM y LM. El microscopio estereoscópico integrado permite localizar y preparar de forma sencilla blancos apenas visibles. Con el brazo de pivote para muestras, es posible observar directamente la muestra en un ángulo entre 0° y 60° o de 90° con respecto a la cara frontal para determinar la distancia con una retícula ocular.

Catálogos

EM TXP
EM TXP
10 Páginas
EM RES102
EM RES102
12 Páginas
EM TIC 3X
EM TIC 3X
16 Páginas
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.