Difractómetro de rayos X X'Pert³ MRD

para la investigaciónde laboratorio

La larga y exitosa historia de los difractómetros de investigación de materiales (MRD) de Malvern Panalytical continúa ahora con una nueva generación: X’Pert³ MRD y X’Pert³ MRD XL. El rendimiento y la confiabilidad mejorados de la nueva plataforma han agregado más capacidad analítica y potencia para estudios de dispersión de rayos X en: • ciencia avanzada de materiales • tecnología de película fina científica e industrial • caracterización metrológica en el desarrollo de procesos de semiconductores Ambos sistemas ofrecen la misma amplia gama de aplicaciones con mapas de oblea completa de hasta 100 mm (X’Pert³ MRD) o 200 mm (X’Pert³ MRD XL). Características Flexibilidad del sistema adaptable a los cambios futuros Los sistemas MRD X'Pert³ ofrecen soluciones avanzadas e innovadoras de difracción de rayos X en la investigación, el desarrollo, el control de procesos y más. Las tecnologías utilizadas hacen que todos los sistemas se puedan actualizar en terreno a todas las opciones existentes y a los nuevos desarrollos en hardware y software futuros. La versión estándar de investigación y desarrollo para uso con muestras de película fina, obleas (mapas completos de hasta 100 mm) y materiales sólidos. La capacidad de análisis de alta resolución se mejora mediante la extraordinaria exactitud de un nuevo goniómetro de alta resolución que utiliza codificadores Heidenhain. El X'Pert³ MRD XL cumple con todos los requisitos de análisis XRD de alta resolución de las industrias de los semiconductores, las películas finas y los materiales avanzados. Es posible obtener mapas de oblea completa de hasta 200 mm.