Difractómetro de rayos X X'Pert³ MRD XL

para la investigación

La larga y exitosa historia de los difractómetros de investigación de materiales (MRD) de Malvern Panalytical continúa ahora con la generación de X’Pert³ MRD XL. El rendimiento y la confiabilidad mejorados de la nueva plataforma han sumado más capacidad analítica y potencia para estudios de dispersión de rayos X en las siguientes aplicaciones: ciencia avanzada de materiales tecnología de película fina científica e industrial caracterización metrológica en el desarrollo de procesos de semiconductores El X’Pert³ MRD XL ofrece una amplia gama de aplicaciones con mapas de oblea completa de hasta 200 mm. Características Flexibilidad del sistema adaptable a los cambios futuros Los sistemas MRD X'Pert³ ofrecen soluciones avanzadas e innovadoras de difracción de rayos X en la investigación, el desarrollo, el control de procesos y más. Las tecnologías utilizadas hacen que todos los sistemas se puedan actualizar en terreno a todas las opciones existentes y a los nuevos desarrollos en hardware y software futuros. El X'Pert³ Extended MRD (XL) aporta mayor versatilidad a la gama de los sistemas MRD X'Pert³. Una plataforma de montaje PreFIX adicional permite montar un espejo de rayos X y un monocromador de alta resolución en línea, lo que aumenta considerablemente la intensidad del haz incidente. Entre sus beneficios están los siguientes: mayor versatilidad de aplicación sin perjudicar la calidad de los datos, difracción de rayos X de alta resolución con altas intensidades, tiempos de medición más cortos para mediciones como mapas de espacio recíproco y reconstrucción desde la configuración estándar hasta la ampliada en cuestión de minutos gracias al concepto de PreFIX.