Microscopio óptico Spotlight 400

FT-IRde laboratoriode espectro

Los sistemas de microscopía IR Spotlight™ están diseñados para afrontar los retos de un laboratorio en expansión mediante la generación de datos reproducibles y de alta calidad a partir de una gran variedad de tipos de muestras. El sistema de obtención de imágenes FT-IR Spotlight 400 combina una alta sensibilidad y una rápida obtención de imágenes con una gran facilidad de uso. La capacidad de obtener rápidamente imágenes de grandes áreas de muestras con alta resolución espacial amplía la microscopía FT-IR a nuevas aplicaciones. Visión general El sistema de captura de imágenes FT-IR Spotlight 400 está diseñado con la tecnología más avanzada para permitir una automatización inteligente y sofisticadas capacidades de análisis. El sistema incorpora una serie de herramientas de productividad exclusivas y cuenta con un sistema de captura de imágenes ATR que permite obtener imágenes infrarrojas de alta resolución de muestras extremadamente pequeñas para visualizar la composición de los materiales a partir de los datos espectrales FT-IR. Entre las características exclusivas del sistema Spotlight 400 se incluyen: Producción espectral de alta calidad e imágenes de áreas de muestra, con resoluciones de píxeles de 6,25, 25 ó 50 micras Localización de regiones de interés (ROI) para facilitar el análisis de múltiples partículas y capas a la vez Posibilidad de configuración para su uso con el sistema Spectrum 3™ para obtener la máxima información de las muestras en el menor tiempo posible. Configurabilidad para ser utilizado con FT-IR de rango medio, cercano o dual con los sistemas Spectrum 3™ para dar la máxima información de las muestras en el menor tiempo posible.