Espectrofotómetro VIS LAMBDA 1050+
NIRultravioletade muestreo

Espectrofotómetro VIS - LAMBDA 1050+ - PerkinElmer - NIR / ultravioleta / de muestreo
Espectrofotómetro VIS - LAMBDA 1050+ - PerkinElmer - NIR / ultravioleta / de muestreo
Espectrofotómetro VIS - LAMBDA 1050+ - PerkinElmer - NIR / ultravioleta / de muestreo - imagen - 2
Espectrofotómetro VIS - LAMBDA 1050+ - PerkinElmer - NIR / ultravioleta / de muestreo - imagen - 3
Espectrofotómetro VIS - LAMBDA 1050+ - PerkinElmer - NIR / ultravioleta / de muestreo - imagen - 4
Espectrofotómetro VIS - LAMBDA 1050+ - PerkinElmer - NIR / ultravioleta / de muestreo - imagen - 5
Espectrofotómetro VIS - LAMBDA 1050+ - PerkinElmer - NIR / ultravioleta / de muestreo - imagen - 6
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador
 

Características

Tipo
VIS, NIR
Aplicaciones
de muestreo
Configuración
de mesa
Longitud de onda

Mín.: 175 nm

Máx.: 3.300 nm

Alto

30 cm
(11,8 in)

Descripción

Los espectrofotómetros UV/Vis/NIR LAMBDA 1050+ de PerkinElmer están diseñados para ofrecer el máximo rendimiento y flexibilidad para analizar una amplia gama de tipos de muestras, incluido el análisis de revestimientos, vidrio de alto rendimiento, energía solar y materiales y componentes avanzados tanto en investigación como en fabricación. El LAMBDA 1050+ cumple y a menudo supera los estándares del sector en cuanto a rendimiento, flexibilidad y comodidad. La última generación de espectrofotómetros LAMBDA 1050+ está diseñada para ofrecer velocidades de exploración, configuración de instrumentos y tiempos de respuesta más rápidos que nunca para maximizar su productividad. Vista general El LAMBDA 1050+ de alto rendimiento ofrece una flexibilidad inigualable al proporcionarle la posibilidad de configurar sistemas que se adapten a sus necesidades. Desde la selección de detectores a los accesorios que proporcionan el enfoque más conveniente y flexible para el muestreo que cualquier otro sistema UV/Vis/NIR disponible. Mejor control de la muestra El LAMBDA 1050+ ha sido diseñado con una serie de características y accesorios para controlar su muestra y asegurar la calidad de sus datos, incluyendo: Los compartimentos de muestras más grandes del sector para una mayor maniobrabilidad de las muestras y una rápida instalación de diversos accesorios Esferas integradoras encajables para captar la reflectancia difusa y especular. Disponibles en 100 y 150 mm, con reflectancia de 8° y capacidad de montaje central Accesorio de reflectancia universal con detectores duales de Si e InGaAs para ajustes de ángulo automatizados, precisos y reproducibles Unidad de accionamiento Pol/Depol para el control automático de luz polarizada o despolarizada mediante PC Atenuación interna controlada por instrumento del 1 al 0,1%, para mediciones de alta absorción

---

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.