El S wide es un sistema específico diseñado para medir rápidamente grandes áreas de muestra de hasta 300 x 300 mm. Ofrece todas las ventajas de un microscopio digital integrado en un instrumento de medición de alta resolución. Extremadamente fácil de usar con un solo botón de adquisición.
SOLUCIONES
Sistema de metrología óptica 3D de gran superficie
Fabricación avanzada
Arqueología y paleontología
Electrónica de consumo
Dispositivos médicos
Moldeo
Óptica
Industria relojera
Repetibilidad de altura submicrónica en toda el área extendida
Medición de altura de hasta 40 mm de una sola vez sin escaneado Z
Lentes bi-telecéntricas con distorsión de campo muy baja que proporcionan una metrología precisa
Desviación de forma a partir de modelos CAD 3D
medición de la diferencia geométrica y la tolerancia
Lentes bi-telecéntricas con distorsión de campo muy baja que proporcionan una metrología precisa
Desviación de forma a partir de modelos CAD en 3D
que proporcionan la diferencia geométrica y la medición de la tolerancia
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