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Bruker Nano Surfaces
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... El perfilómetro óptico ContourX-100 establece un nuevo punto de referencia para la metrología de superficies sin contacto, precisa y repetible, al mejor precio de su clase. El sistema de tamaño reducido ofrece capacidades ...
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... innovación en medición de superficies y liderazgo tecnológico, Dektak Pro™ establece un nuevo estándar en el rendimiento de los perfilómetros de palpador. El sistema proporciona de forma única datos de la más alta calidad con una facilidad ...
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Bruker Nano Surfaces
Resolución espacial: 530, 460 nm
Largo: 600 mm
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Aumento: 20, 5, 100, 50, 150 unit
Resolución espacial: 630, 530, 460, 575 nm
Largo: 610 mm
... El nuevo S neox supera a los microscopios ópticos de perfilado 3D existentes en términos de rendimiento, funcionalidad, eficacia y diseño, proporcionando a Sensofar un sistema de medición de áreas líder en su clase. Más rápido que nunca Todo ...
Sensofar Metrology
Aumento: 5, 150, 20, 50, 100 unit
Resolución espacial: 630, 530, 460, 575 nm
Largo: 635 mm
... El perfilador óptico 3D de cinco ejes de S neox combina un módulo rotacional de alta precisión con las funciones avanzadas de inspección y análisis del perfilador óptico 3D de S neox. Esto permite realizar mediciones ...
Sensofar Metrology
Aumento: 3, 10, 50, 100, 150 unit
Resolución espacial: 550 nm
Largo: 365 mm
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... TopMap Micro.View es un perfilómetro óptico compacto y fácil de usar. Combine un rendimiento excepcional y un precio asequible con esta potente solución de metrología. Con un rango de medición Z ampliado de 100 mm y la ...
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... TopMap Micro.View+ es el perfilador óptico de superficies de nueva generación. Diseñada para la modularidad, esta completa estación de trabajo permite configuraciones personalizadas y específicas para cada aplicación. El Micro.View + ...
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... de superficies utilizando parámetros como planitud, alturas de paso y paralelismo. En conjunto, la resolución espacial, la óptica telecéntrica y la extraordinaria velocidad y rendimiento dan una cifra realmente impresionante. Aspectos ...
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