Microscopio SEM VEGA

de laboratoriopara investigación en materialesde inspección

El TESCAN VEGA Compact, que demuestra que un nivel básico no tiene por qué significar comprometer los resultados, ofrece una solución SEM analítica completa para laboratorios que dan prioridad tanto a un funcionamiento sencillo como a la obtención rápida de imágenes de alta calidad y análisis de composición (EDS). TESCAN VEGA Compact presenta una configuración simplificada que incluye únicamente los componentes más críticos para capturar de forma eficiente datos morfológicos y elementales, lo que permite que TESCAN VEGA Compact ocupe menos espacio en el laboratorio. Con capacidad para muestras de gran tamaño habituales en la industria, la ciencia de materiales y los semiconductores -como secciones metalúrgicas, estructuras soldadas o placas de circuitos impresos-, TESCAN VEGA Compact es una gran elección no sólo para sus necesidades actuales de inspección de materiales, control de calidad y análisis de fallos, sino también para sus necesidades analíticas futuras. TESCAN VEGA Compact funciona desde la interfaz gráfica de usuario con todas las funciones propia de TESCAN, TESCAN Essence™, que se encuentra en el corazón de todos los instrumentos SEM y FIB-SEM de TESCAN. Un operador que aprenda en el TESCAN VEGA Compact puede hacer fácilmente la transición a otros microscopios TESCAN o adaptar algunas características del entorno de software Essence para que coincida con la GUI de otros instrumentos en el laboratorio. Principales ventajas Procese las muestras más rápidamente con la gran cámara del VEGA Compact, que ofrece el espacio necesario para analizar múltiples muestras o muestras de gran tamaño, así como alto vacío real para obtener resultados EDS fiables Adquiera fácilmente datos de composición y correlaciónelos directamente con la imagen SEM mediante la función de superposición del EDS Essence™ opcional y totalmente integrado de TESCAN