Microscopio SEM MAGNASTEMpara investigación en materialesde mesa
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Características
- Tipo
- SEM, STEM
- Aplicaciones
- para investigación en materiales
- Configuración
- de mesa
- Otras características
- alta resolución
Descripción
SEM UHR para la caracterización de nanomateriales a escala subnanométrica
Obtención de imágenes de alta resolución y alto contraste de materiales de nueva generación (por ejemplo, estructuras catalíticas, nanotubos, nanopartículas y otras estructuras a nanoescala)
Excelente plataforma adecuada para la metrología SEM/STEM a escala subnanométrica
Configuración rápida del haz de electrones: las condiciones óptimas de obtención de imágenes están garantizadas por el In-Flight Beam Tracing™
Sistema multidetector TriBE™ y TriSE™ para la nanocaracterización de muestras
Plataforma modular de software intuitivo diseñada para un funcionamiento sin esfuerzo independientemente del nivel de habilidad de los usuarios
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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.