Una combinación única de Plasma FIB y FE-SEM UHR libre de campo para la caracterización de materiales a multiescala
Alto rendimiento, procesamiento FIB de área grande de hasta 1 mm
Preparación de micromuestra sin Ga
Ultra alta resolución, imágenes y análisis FEG-SEM sin campos.
Detección In-lens SE y BSE
Optimización de la resolución para tomografía FIB-SEM multimodal de alto rendimiento
Campo de visión superior para facilitar la navegación.
Interfaz gráfica de usuario modular Essence™ fácil de usar