FIB-SEM nano analítico versátil para amplias capacidades de investigación de materiales
Preparación de micro muestras con alta precisión
Imagen SEM libre de campos con ultra alta resolución con nano análisis
Campo de visión extendido con fácil navegación.
Automatización multisitio del proceso.
Tomografía FIB-SEM multimodal.
Interfaz de usuario con software modular de fácil uso.
Atractivos paquetes opcionales para diversas aplicaciones.