Microscopio de rayos X Xradia Versa

de laboratorio3Dde pie

Los microscopios de rayos X en 3D (XRM) ZEISS Xradia Versa extremadamente versátiles proporcionan una calidad superior de imagen en 3D y datos para una amplia gama de materiales y entornos de trabajo. Xradia Versa XRM cuenta con una ampliación de dos platinas basada en la óptica de un sincrotrón y en la revolucionaria tecnología RaaD™ (resolución a distancia) para una elevada resolución, incluso a grandes distancias de trabajo, una gran mejora con respecto a la tomografía microcomputarizada tradicional. La captura de imágenes no destructiva conserva y amplía el uso de sus muestras valiosas, lo que hace posible realizar estudios en 4D e in situ. ZEISS Xradia 630 Versa, con el exclusivo objetivo 40X Prime de mayor capacidad energética, le permite superar los límites de la obtención de imágenes submicrónicas como nunca antes. El sistema alcanza un rendimiento de resolución incomparable de 450-500 nm en todo el rango energético, de 30 kV a 160 kV, lo que ofrece capacidades totalmente nuevas para su investigación. NavX dirige a los usuarios a través de flujos de trabajo automatizados con información inteligente del sistema para proporcionar resultados de forma fácil y eficaz. DeepScout, basado en IA, cambia las reglas del juego para profundizar en su muestra con un rendimiento 100 veces superior. Potencie el rendimiento de su Xradia 620 y 630 Versa y obtenga más información con sus capacidades avanzadas. Mejore el contraste de la absorción para materiales de Z baja o similar con el Visualizador de contraste de barrido doble (DSCoVer, por sus siglas en inglés).