Microscopio de rayos X Xradia Ultra

para investigación en materialespara las ciencias de la vidade contraste de fase

La nanotomografía de rayos X de sincrotrón permite obtener imágenes 3D no destructivas a nanoescala, pero hay que solicitar un tiempo de haz muy limitado. ¿Y si ya no tuviera que esperar a disponer de tiempo de sincrotrón? Imagínese que dispusiera de capacidades de sincrotrón en su propio laboratorio. Con la familia ZEISS Xradia Ultra, tiene a mano microscopios de rayos X (XRM) 3D no destructivos que ofrecen una resolución a escala nanométrica con calidad de sincrotrón. Elija entre dos modelos: tanto el ZEISS Xradia 810 Ultra como el ZEISS Xradia 800 Ultra están diseñados para obtener una calidad de imagen óptima para sus aplicaciones más frecuentes. Imágenes no destructivas en entorno nativo Imágenes de rayos X 3D a nanoescala con una resolución espacial de hasta 50 nm y tamaños de vóxel de 16 nm experimentos in situ en 3D y 4D Cuantificación de nanoestructuras y utilización de los datos para la modelización Exploración de materiales duros y blandos Potencie su investigación con imágenes a nanoescala no destructivas Aproveche las exclusivas imágenes no destructivas para observar fenómenos a nanoescala en sus entornos nativos en 3D. Benefíciese del único instrumento que cubre el vacío existente entre los XRM de resolución submicrométrica (como ZEISS Xradia Versa) y las imágenes 3D de mayor resolución, pero destructivas, como las FIB-SEM Utilice soluciones integradas in situ para realizar imágenes de rayos X 3D / 4D no destructivas líderes en su laboratorio, con una resolución de hasta 50 nm y un tamaño de voxel de 16 nm. Acelere su investigación añadiendo estas capacidades únicas a su cartera analítica. Contraste y calidad de imagen superiores Observe los defectos en 3D sin destruir la muestra ni alterar los datos con artefactos de corte.