Dispositivo de medición para espectrómetro DSR300
de controlde tensiónde mesa

dispositivo de medición para espectrómetro
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Características

Parámetros analizados
de control, de tensión
Uso
para espectrómetro
Configuración
de mesa

Descripción

El sistema de medida de respuesta espectral micro-nano de la serie DSR300 está dedicado a materiales de baja dimensión, proporcionando medidas de barrido espectral y barrido de foto corriente de alta precisión. el punto de detección de 40 m hace que el sistema pueda medir muestras de un tamaño mínimo de 100 μm. La fuente de luz de ultra alta estabilidad proporciona una alta precisión; se pueden integrar múltiples fuentes de luz en el sistema para medir una variedad de detectores. El software amigable es fácil de usar y controlar automáticamente el dispositivo para operar. Función: respuesta espectral ■ Eficiencia cuántica externa ■ Curva IT de tensión de polarización ■ Mapeo LBIC ■ Prueba de linealidad de la respuesta Parámetro técnico principal Fuente de luz Fuente de luz de xenón Gama espectral: 250 - 1800 nm Inestabilidad: < 1% Fuente de luz supercontinua Gama espectral: 400 - 2400 nm Frecuencia: 0,01 - 200 MHz Ancho de pulso: 100 ps Láser CW Longitud de onda opcional: 405 nm, 532 nm, 633 nm, 808 nm, 980 nm; Inestabilidad: < 1% Láser pulsado Longitud de onda opcional: 375 nm, 405 nm, 488 nm, 785 nm, 976 nm; Ancho de pulso: 100 ps Frecuencia: 1-20 MHz Microlente objetivo de 10 aumentos (estándar) Distancia de trabajo>17 mm NA: 0.42 Rango espectral 350 - 800 nm lente objetivo 50x Distancia de trabajo>17 mm NA: 0,42 Rango espectral 480 - 1800 nm lente objetivo 50x UV Distancia de trabajo>12 mm NA: 0,42 Rango espectral: 240 - 500 nm lente objetivo reflectante 40x Distancia de trabajo>7,8 mm NA: 0,5 Rango espectral: 200 nm - 20 um Unidad de adquisición de datos Amplificador Lock-in Frecuencia: 20 Hz - 1 KHz Deriva: < 0,1°/℃ por debajo de 10 kHz Modo de entrada de tensión o corriente Sensibilidad de escala completa de 1nV a 1V Ganancia de corriente 106 o 108 V/A Reserva dinámica >100 dB Pantalla: X、Y、R、θ

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Ferias

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Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 nov. 2024 Shanghai (China)

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    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.