El sistema de medida de respuesta espectral micro-nano de la serie DSR300 está dedicado a materiales de baja dimensión, proporcionando medidas de barrido espectral y barrido de foto corriente de alta precisión. el punto de detección de 40 m hace que el sistema pueda medir muestras de un tamaño mínimo de 100 μm. La fuente de luz de ultra alta estabilidad proporciona una alta precisión; se pueden integrar múltiples fuentes de luz en el sistema para medir una variedad de detectores. El software amigable es fácil de usar y controlar automáticamente el dispositivo para operar.
Función:
respuesta espectral
■ Eficiencia cuántica externa
■ Curva IT de tensión de polarización
■ Mapeo LBIC
■ Prueba de linealidad de la respuesta
Parámetro técnico principal
Fuente de luz
Fuente de luz de xenón
Gama espectral: 250 - 1800 nm
Inestabilidad: < 1%
Fuente de luz supercontinua
Gama espectral: 400
- 2400 nm
Frecuencia: 0,01 -
200 MHz
Ancho de pulso: 100 ps
Láser CW
Longitud de onda opcional: 405 nm, 532 nm, 633
nm, 808 nm, 980 nm;
Inestabilidad: < 1%
Láser pulsado
Longitud de onda opcional: 375 nm, 405 nm, 488
nm, 785 nm, 976 nm; Ancho de pulso: 100 ps
Frecuencia: 1-20 MHz
Microlente
objetivo de 10 aumentos (estándar)
Distancia de trabajo>17 mm
NA: 0.42
Rango espectral 350
- 800 nm
lente objetivo 50x
Distancia de trabajo>17 mm
NA: 0,42
Rango espectral 480
- 1800 nm
lente objetivo 50x UV
Distancia de trabajo>12 mm
NA: 0,42
Rango espectral: 240 - 500 nm
lente objetivo reflectante 40x
Distancia de trabajo>7,8 mm
NA: 0,5
Rango espectral: 200 nm - 20 um
Unidad de adquisición de datos
Amplificador Lock-in
Frecuencia: 20 Hz - 1 KHz Deriva: < 0,1°/℃ por debajo de 10 kHz Modo de entrada de tensión o corriente Sensibilidad de escala completa de 1nV a 1V Ganancia de corriente 106 o 108 V/A Reserva dinámica >100 dB Pantalla: X、Y、R、θ
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